局部放電檢測(cè)儀局放試驗(yàn)通用試驗(yàn)方案
 

　　局部放電檢測(cè)儀滿足GB-7354、GB-12074、GB-1208中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的相關(guān)技術(shù)要求。該局部放電檢測(cè)儀儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。并采用*的抗干擾組件和*的門顯示電路，并具有四種高頻橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn)，新產(chǎn)品研制試驗(yàn)，電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試。可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場(chǎng)使用。
 

　　局部放電檢測(cè)儀系統(tǒng)工程原理簡(jiǎn)介
 

　　若試品Ca在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，經(jīng)耦合電容Ck產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號(hào)，經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時(shí)也送到脈沖峰值表(對(duì)數(shù)表)顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變。
 

　　局部放電檢測(cè)儀局放試驗(yàn)通用試驗(yàn)方案
 

　　(一)試驗(yàn)?zāi)康?br /> 

　　證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
 

　　測(cè)定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時(shí)的電壓(起始放電電壓)和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)最高電壓(終止放電電壓)。
 

　　測(cè)定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
 

　　(二)試驗(yàn)條件
 

　　交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
 

　　試品的電氣、機(jī)械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
 

　　由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓最高值以上的電壓。
 

　　經(jīng)過搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時(shí)間后再部放電試驗(yàn)(油浸)。
 

　　(三)試驗(yàn)程序
 

　　將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，各種金屬物體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。
 

　　根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。
 

　　對(duì)所選擇的測(cè)試回路用視在放電量校準(zhǔn)器對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正，校正時(shí)對(duì)所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把分刻度系數(shù)H調(diào)到H=Uo Co/K值。校正完畢后，局部放電檢測(cè)儀儀器的細(xì)調(diào)(連續(xù)調(diào)節(jié)) 增益旋鈕不得隨意變動(dòng)，同時(shí)應(yīng)將視在放電量校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)器擊穿而使高壓線路短路。